是一種專門應用于半導體材料和電子器件領域的檢測設備。
具有強大功能的X-射線,軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。
測量更小、更快、更薄MicronX比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準直器、探測器、信息處理器和計算機等部件在內的一整套專利系統完成的。
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超精度美國博曼(BOWMAN)線路板X-RAY膜厚測試儀
產品屬性
詳細信息 是一種專門應用于半導體材料和電子器件領域的檢測設備。 具有強大功能的X-射線,軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。 測量更小、更快、更薄MicronX比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準直器、探測器、信息處理器和計算機等部件在內的一整套專利系統完成的。 相關產品 共0條 相關評論 ![]() |