美國原裝博曼X-RAY膜厚測試儀是一款簡潔、堅固和可靠的質量控制系統，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。 可應用于常規金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業，完成單層或多層厚度測量。
美國原裝博曼X-RAY膜厚測試儀主要特點包括：
可完成至多4層鍍層（另加底材）和15個元素的鍍層厚度測試，自動修正X射線重疊譜線
卓越的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鋁（原子序數13號）到鈾（92號）各元素 測厚行業20年知識和經驗的積淀.
美國原裝博曼X-RAY膜厚測試儀可實現如下測試要求：
符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
至多同時分析25種元素
經實踐驗證、堅固、耐用的設計，可在絕大多數嚴苛的工業條件下使用。
空間占用小 –節約寶貴的工作臺空間，也可近產線放置。
計算機提供USB和以太網接口用于連接打印機、光驅和網絡。
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