點擊圖片查看大圖這種創新技術的，目前正在申請專利的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度，這就可以在小到幾微米的結構上進行測量。
博曼膜厚儀在經濟上遠遠優于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。XDVM-μ可以勝任測量傳統的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不
夠而無法測量到的結構。
博曼膜厚儀具有強大功能的X-射線XDVM-μ可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。
博曼膜厚儀技術指標型號：元素分析范圍從鋁（AL)到鈾（U）。一次可同時分析多24個元素或五層以上鍍層。元素分析檢出限可達2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度薄可達0.005um，一
般在20um內（不同材料有所不同）。小孔準直器（小直徑0.1mm），測試光斑在0.2mm以內。高精度移動平臺（定位精度小于0.005mm）。任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模
型。多次測量重復性可達0.05um（對少于1um的外層Au）。長期工作穩定性為0.1um（對少于1um的外層Au）。溫度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。儀器尺
寸：576 x 495x545 mm重量：90 kg標準配置開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高
低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機。應用領域黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
博曼膜厚儀結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
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深圳市金東霖科技有限公司是香港金霖公司在大陸的全資子公司，是檢測儀器設備供應商及服務商。專業代理品牌儀器設備，在膜厚測量領域獨領風騷，是鍍層厚度測量和材料測試儀器領域公認的者,通過旗下12家子公司和32個在不同國家的代表處活躍于，在香港經營多年，在科研機構、高等院校，線路板、五金電鍍、汽車制造、衛浴、連接器、鐘表、珠寶首飾領域擁有大量的客戶群，讓客戶滿意，為客戶創造大的價值是我們始終追求的目標。
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