PCT加速老化試驗箱結構：

　　1,PCT加速老化試驗箱采用圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象,

　　2,氣密性良好,耗水量少,每次手動加水可連續運轉1H;自動加水可連續運轉999H;

　　3,自動門禁,圓型門自動溫度與壓力安全檢知,門禁自動鎖定控制系統,采用專利安全門把設計,內箱有大于正常壓力時測試門會被反壓保護而打不開,保護操作人員安全;

　　4,專利型packing,內箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命;

　　5,實驗開始前之真空動作可將原來內箱之空氣抽出,并吸入過濾器,過濾之新空氣packing<1micom,以確保箱內之純凈度;

　　6,臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示;

　　7,機臺具有定時干燥功能,使試驗產品處于干燥狀態,

　　8,PCT加速老化試驗箱采用手動+自動補水功能;試驗不終斷;試驗結束時設備會自動瀉除壓力。

　　隨著半導體可靠性的提高,目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率,減少試驗時間,采用了PCT加速老化試驗箱試驗方法。PCT加速老化試驗箱試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現在PCT加速老化試驗箱試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。