GJB4.4-83艦船電子設備環(huán)境試驗低溫貯存試驗
本標準的目的是評定艦船電子設備在低溫環(huán)境條件下貯存的適應性.
本標準規(guī)定了艦船電子設備的低溫貯存試驗,它是制訂艦船電子設備總技術條件或產(chǎn)品標準等技術文件相應部分的基礎和選用依據(jù).
試驗等級：
試驗溫度：零下40度；
試驗時間：24小時。
試驗樣品應處于不包裝，不通電和準備工作狀態(tài)，并按實船使用狀態(tài)將試驗樣品放進試驗箱內，然后以每分鐘不超過1度的速率將試驗箱降到零下40度，保溫24小時。
試驗結束后對試驗樣品表面凝結的冰霜及融化水珠，允許短時間內用試驗箱溫度進行吹風除去，然后在正常大氣條件下進行恢復，使之達到溫度穩(wěn)定。
后檢測：按有關標準規(guī)定對試驗樣品進行外觀檢查，電性能和機械性能檢測。
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