POWER ONE DFA20E24D5
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POWER ONE DFA20E24D5 T5833存儲器測試系統 T5833具備高并行測試能力,晶圓測試支持2,048個器件并行測試,后道封裝測試支持512個器件同測,極大地縮短了測試時間并提升產能,有效地降低了測試成本。除了支持kwn good die (KGD)測試高達2.4Gbps之外,T5833也同時憑借高效的site CPU架構,憑借多CPU設計,使測試流程獲得優化控制。
l Invensys Foxboro(福克斯波羅):I/A Series系統,FBM(現場輸入/輸出模塊)順序控制、梯形邏輯控制、事故追憶處理、數模轉換、輸入/輸出信號處理、數據通信及處理等。 |